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解決方案
微波毫米波RCS測(cè)試系統(tǒng)
微波毫米波RCS測(cè)試系統(tǒng)主要應(yīng)用于飛機(jī)、艦船等隱身性能測(cè)試與評(píng)估領(lǐng)域,具有RCS精確測(cè)試與評(píng)估、目標(biāo)體強(qiáng)散射分布成像與診斷、目標(biāo)局部散射特性成像分析、隱身涂層修復(fù)效果評(píng)估等功能。系統(tǒng)以矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀或?qū)S脺y(cè)試設(shè)備為核心儀器,通過外配天線、校準(zhǔn)件、運(yùn)動(dòng)裝置等設(shè)備,可滿足1GHz~40GHz頻段散射特性測(cè)試需要,選配擴(kuò)頻設(shè)備后,可實(shí)現(xiàn)到750GHz毫米波太赫茲頻段的覆蓋。系統(tǒng)具有自動(dòng)化程度高、配置靈活、測(cè)量速度快、精度高、參數(shù)種類齊全等特點(diǎn)。在該系統(tǒng)平臺(tái)基礎(chǔ)上,中電科思儀科技股份有限公司還可提供近/遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試方法、暗室/室外場(chǎng)測(cè)試方案選型及場(chǎng)地環(huán)境設(shè)計(jì)建設(shè),掃描架/轉(zhuǎn)臺(tái)及測(cè)試儀器設(shè)備對(duì)比選型,以及全系統(tǒng)集成設(shè)計(jì)與施工等服務(wù),全面滿足用戶需求。
一維、二維、三維RCS成像功能
系統(tǒng)具備一維、二維、三維RCS成像能力,滿足用戶對(duì)各種復(fù)雜目標(biāo)體散射點(diǎn)分布情況進(jìn)行分析診斷的測(cè)試需要。
局部散射特性快速成像功能
系統(tǒng)采用天線陣列電掃控制技術(shù)、近場(chǎng)多維空間散射成像與干擾濾波處理技術(shù),實(shí)現(xiàn)了非標(biāo)準(zhǔn)外場(chǎng)環(huán)境下的快速成像,成像分辨率達(dá)厘米級(jí)。
毫米波太赫茲高分辨率成像功能
系統(tǒng)利用毫米波太赫茲頻率高、帶寬大的特點(diǎn),采用線性調(diào)頻或矢網(wǎng)步進(jìn)頻工作體制,配合運(yùn)動(dòng)掃描裝置和天線陣列,快速獲取待測(cè)目標(biāo)表面和內(nèi)部結(jié)構(gòu)信息,實(shí)現(xiàn)高分辨率三維層析成像,可廣泛用于復(fù)合材料檢測(cè)、內(nèi)部缺陷判斷、生產(chǎn)線檢測(cè)等無損檢測(cè)領(lǐng)域。
近場(chǎng)測(cè)試外推遠(yuǎn)場(chǎng)RCS技術(shù)
系統(tǒng)具備近場(chǎng)測(cè)試外推遠(yuǎn)場(chǎng)RCS能力,可在用戶已有場(chǎng)地條件下實(shí)現(xiàn)更大尺寸目標(biāo)、更高工作頻段散射特性測(cè)試,為場(chǎng)地受限用戶提供測(cè)試解決方案。
多域測(cè)量功能
系統(tǒng)除提供基本的頻率掃描測(cè)量外,還可利用時(shí)頻域轉(zhuǎn)換技術(shù),實(shí)現(xiàn)測(cè)試結(jié)果的時(shí)域顯示,便于目標(biāo)散射特性一維分布規(guī)律的查看;系統(tǒng)支持角域測(cè)量模式,可在點(diǎn)頻狀態(tài)下,測(cè)試目標(biāo)不同角度的散射數(shù)據(jù),便于進(jìn)行目標(biāo)不同方位散射特性的測(cè)試與評(píng)估。
RCS測(cè)量校準(zhǔn)功能
系統(tǒng)軟件提供了豐富的RCS校準(zhǔn)算法,可有效消除系統(tǒng)誤差與隔離誤差對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響,提高測(cè)量精度;系統(tǒng)校準(zhǔn)軟件支持金屬球、金屬平板、金屬圓柱、三面角反射器、兩面角反射器等多種常用校準(zhǔn)件,提高用戶選擇的靈活性。
硬件時(shí)域門功能
系統(tǒng)可選配硬件時(shí)域門控裝置,結(jié)合專用脈沖測(cè)量控制軟件,可實(shí)現(xiàn)脈沖調(diào)制信號(hào)的發(fā)生與測(cè)量。實(shí)現(xiàn)干擾信號(hào)與目標(biāo)回波的硬件時(shí)域分離,大大提高RCS測(cè)量精度。
獨(dú)立的外部中頻輸入接口
系統(tǒng)主機(jī)提供專門的外部中頻信號(hào)接入硬件接口與軟件控制菜單,可直接接收并處理中頻信號(hào),系統(tǒng)可根據(jù)用戶需要靈活配置外混頻方案,提高系統(tǒng)的通用性與使用靈活性。
微波毫米波RCS測(cè)試系統(tǒng)具有散射截面測(cè)量功能、散射成像功能,擁有豐富的硬件接口與靈活通用的軟件平臺(tái),可為多種應(yīng)用場(chǎng)合下的散射截面測(cè)試與成像系統(tǒng)搭建提供基礎(chǔ)型通用化平臺(tái),通過不同的系統(tǒng)組合可滿足微波暗室、標(biāo)準(zhǔn)外場(chǎng)、室內(nèi)緊縮場(chǎng)、試驗(yàn)外場(chǎng)等多種場(chǎng)景下的散射特性測(cè)試需求。
遠(yuǎn)場(chǎng)RCS測(cè)試應(yīng)用
近場(chǎng)RCS測(cè)試應(yīng)用
緊縮場(chǎng)RCS測(cè)試應(yīng)用
室外整機(jī)或局部目標(biāo)RCS測(cè)試應(yīng)用
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