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典型應(yīng)用
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單端光器件測(cè)試
針對(duì)電光調(diào)制器、直接調(diào)制激光器等電光器件的S11參數(shù)和S21參數(shù)測(cè)試，利用多窗口顯示可快速獲取測(cè)試對(duì)象的各頻點(diǎn)反射和傳輸特性；針對(duì)光電探測(cè)器、ROSA、TIA集成組件等光電器件的S22參數(shù)和S21參數(shù)測(cè)試，利用光標(biāo)功能可快速分析3dB帶寬，評(píng)估器件的頻響特性；針對(duì)光纖濾波器等光光器件的S21參數(shù)測(cè)試，可快速實(shí)現(xiàn)損耗、平坦度等指標(biāo)的測(cè)量。
幅頻特性測(cè)試
利用儀器提供的多種顯示模式,可實(shí)現(xiàn)相位、群時(shí)延等信息的顯示，可快速實(shí)現(xiàn)相頻特性等指標(biāo)的測(cè)量。
相頻特性測(cè)試
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平衡光器件測(cè)試
光波元件分析儀通過配置四端口機(jī)型，實(shí)現(xiàn)平衡光發(fā)射或光接收器件對(duì)差分增益和共模抑制參數(shù)的測(cè)試需求，更加貼合現(xiàn)有和未來(lái)高速光纖通信領(lǐng)域中多端口參數(shù)的測(cè)量場(chǎng)合。
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光芯片在片測(cè)試
6433P光波元件分析儀搭配探針臺(tái)及高頻探針，可實(shí)現(xiàn)電光/光電芯片的頻響參數(shù)的測(cè)試。
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自動(dòng)化測(cè)試
6433P光波元件分析儀提供標(biāo)準(zhǔn)的SCPI程控指令集，方便用戶進(jìn)行遠(yuǎn)程控制。通過網(wǎng)口，只需完成設(shè)備的互聯(lián)，發(fā)送命令即可實(shí)現(xiàn)一體化的自動(dòng)測(cè)試方案，方便用戶將光波元件分析儀與溫控、數(shù)字源表及被測(cè)件等共同搭建光芯片測(cè)試系統(tǒng)。
