產品綜述
Ceyear 3674系列矢量網絡分析儀是技術創新的巔峰之作，可以輕松應對半導體芯片測試、材料測試、天線測試、高速線纜測試、微波部組件測試等帶來的嚴峻挑戰。出色的射頻特性、靈活的硬件配置和豐富的軟件功能相輔相成，只需一次連接即可完成多種測量任務。創新的人機交互設計可幫助您快速便捷地完成所需的測量設置，超大觸摸屏為您帶來靈活、高效的操作體驗。
功能特點
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脈沖S參數測量
內置4路脈沖發生器，用于內部源調制、中頻門控制，并從后面板輸出。每路脈沖發生器的脈寬和延時獨立可設。
源調制來源包括后面板輸入、內部脈沖發生器和常開、常閉等多種狀態，既可利用外部脈沖對矢量網絡分析儀的源進行調制，也可以使其處于連續波狀態，通過觸發同步模式進行測量，為T/R組件、天線收發模塊等測試提供有力支撐。
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混頻器/變頻器標量測量分析
提供完善的混頻器/變頻器特性設置，支持雙階本振、外部本振源輸入；支持線性掃、功率掃、段掃等多種掃描類型；通過簡單設置可自動完成復雜混頻器RF、雙LO、IF之間倍頻、分頻等特性計算；支持源端口功率、本振端口功率、衰減、功率掃特性設置等。
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混頻器/變頻器矢量測量分析
提供完整的混頻器/變頻器幅度響應、絕對相位及絕對時延響應測量能力。校準過程中引入雙混頻器實現參考通路變頻與校準通路的變頻。引入的雙混頻器要求與被測件的變頻特性一致，且校準混頻器要求變頻特性互易。
單次連接即可完成混頻器/變頻器復數特性測量，幅度和相位測量精度高。
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增益壓縮測量
增益壓縮測量功能能夠通過一次連接、一次校準完成有源器件在工作頻帶內的線性增益、壓縮點增益、壓縮點輸入功率、壓縮點輸出功率、線性輸入匹配等壓縮參數測量。
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增益壓縮掃描三維圖繪制
提供三維視圖功能，更好地展示被測件在激勵狀態下的工作性能，另外還可以展示頻率切面和功率切面，可以直觀展現被測件在每個頻率點和每個功率點的特性。
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噪聲系數測量
一次連接，可同時測試S參數、噪聲系數、噪聲參數、增益壓縮和變頻增益等多種參數。基于冷源噪聲系數測試方法，可進行精確的噪聲系數和噪聲參數測試。通過構建先進的噪聲相關矩陣模型，結合矢量網絡分析儀精密的S參數校準，適用于較小噪聲系數被測件的精確測試。測量動態范圍最大可達55dB，適用于較大增益被測件的測試。
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頻譜測量分析
矢量網絡分析儀的每個端口都可以完成被測件的輸入譜和輸出譜的測量，可在小的分辨率帶寬下快速地定位被測件雜散譜和諧波的狀態。
針對有源器件的測試，頻譜測量功能可提供更多的測量參數，單臺儀器通過單次連接可實現常規的S參數測試、雜散和諧波的定位測量；完備的比值和絕對測量誤差修正技術可提供更準確的測量結果。
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信號完整性測量分析
具備強大的信號完整性測量分析能力，可提供微米級的空間分辨率。單一視圖同時完成時域和頻域測試分析，可以精準測試傳輸線上阻抗特性的變化情況；便捷的近端與遠端串擾測試，用于測試多條傳輸線之間相互影響的程度。
高級時域分析選件具備基于網絡參數的虛擬眼圖生成及分析功能。根據不同的高速數字通信標準，高級時域分析選件可以使用預先定義好的眼圖模板進行高效率Pass/Fail測試。
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總諧波失真（THD）測量分析
寬頻帶測試，可用于真差分激勵下的輸入輸出功率、增益、諧波總失真等參數的分析，簡化差分器件的諧波性能測試復雜度。
單次校準同時完成多通道的誤差修正，設置和測量參數的編輯可通過XML文件的方式進行，一鍵實現參數導入。
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自動夾具移除
對于非標準接頭器件測試，如封裝微波器件、在片器件等，此類器件無法與矢量網絡分析儀直接相連。通常使用夾具將被測件連接到矢量網絡分析儀上，但同時夾具也引入了測量誤差。自動夾具移除功能可以進行夾具參數的提取、存儲以及夾具去嵌入，最終獲得被測件的真實參數。
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極致的用戶體驗
界面簡潔直觀，便于操作，提高測試效率
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外設接口豐富，靈活實用
1-10MHz外參考輸入/輸出接口
2-110V/220V自適應電源輸入
3-可拆卸CPU模塊，配置硬盤、LAN、DP、USB、GPIB接口
4-激勵輸出、本振輸出等接口，提供靈活的測量配置，提供靈活的測量配置
5-外中頻輸入接口，脈沖輸入輸出接口
6-偏置T配置輸入接口
7-自動測試接口，觸發輸入/輸出接口，噪聲源電源接口
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重量 |
功耗 |
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掃描模式 |
掃描駐留時間 |
對比 |
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